耳机仓外观检测设备AOI | P-AP3005

● 100%抓取耳机仓平面与弧面以及电源孔倒角缺陷；

● 检测效率可达585pcs/小时；

● 缺陷抓取率：>98%；漏检率：<2%；

● 软件算法兼容多款耳机仓，无需停机调试随时切换模型算法库；

● 多种在线数据分析工具，帮助客户快速发现问题，改善制程；

● 设备移动灵活，只需插拔一条电缆即可使用，

● 小巧，占地仅5㎡，节省厂房空间。