应用范围：
MCU、Flash、LDO、ADC、DAC、Logic等芯片参数的CP、FT测试
主要特点：
● 数字通道内建PPMU/频率测量单元
● Source/Capture向量
● 最高2GB 存储深度 SCAN向量
● ALPG向量生成测试存储芯片
设备参数:
| 最大数据速率 | 200Mbps |
| 最大数字通道 | 512（64*8） |
| 器件电源数量 | 32（16*2） |
| 器件电源参数 | -10V~+10V/最大8A |
| 参数测量电压 | -1.5V~+6.5V/精度10mV |
| 参数测量电流 | ±2uA/±20uA/±200uA±2mA/±50mA |
机械&电气规格：
| 机械规格 | |
外尺寸(测试头) | 520(W)*490 (L)*650(H)mm |
净重(测试头) | approx.70kg |
毛重(测试头) | approx.100kg |
| 电气规格 | |
能量功耗 | 3000W |
工作电压 | 200~240VAC 50/60Hz |
